LAI-2200C植物冠层分析仪

间接测量LAI的标准

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无扰动获得精准测量结果

LAI-2200C 植物冠层分析仪采用非破坏性方法,轻松准确测量叶面积指数(LAI)。在灵活性、先进特性、准确性以及使用便捷性方面,它始终胜过其他方法,如Ceptometry和半球摄影法。

LAI-2200C Plant Canopy Analyzer

测量叶面积指数

这段简短视频解释了叶面积指数的概念、LAI-2200C 植物冠层分析仪测量原理,以及LAI-2200C如何在灵活性、先进特性、准确性和使用便捷性方面,胜过其他方法(如Ceptometry和半球摄影法)。

下载 《估算冠层结构的间接方法》 以获取有关LAI-2200C 植物冠层分析仪、Ceptometry和半球摄影等方法之间区别的更多信息。

适用于各种冠层

即使是其他方法无法测量的行作物和孤立树木,LAI-2200C也能计算出LAI。

适用于任何天空条件

多数天空条件下都能准确测量。不同于其他方法,其他方法需要特定的太阳角度或云覆盖。

经验证的结果

由科学家和工程师共同设计,提供快速准确的结果,以及先进的数据处理选项。

真实孔隙比

在单次测量中获得五个天顶角下的孔隙比。

LAI-2200C

开始在您的研究中使用LAI-2200C

LAI-2200C由科学家和工程师共同设计,提供快速准确的测量结果,和先进的数据处理方法。

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